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Description
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Este conjunto de dados reúne os dados experimentais de caracterização espectroscópica, morfológica e estrutural de filmes finos dos semicondutores orgânicos poli(3-hexiltiofeno) (P3HT) e poli[2,5-bis(3-tetradeciltiofeno-2-il)tieno[3,2-b]tiofeno] (PBTTT-C14), depositados por blade coating sobre substratos de vidro BK7 (2,5 cm × 2,5 cm) a partir de soluções a 10 mg/mL em 1,2-diclorobenzeno. As deposições foram realizadas em equipamento Autocoat BCC-02 com lâmina cilíndrica dentada de quatro dentes, que produz quatro trilhas paralelas por substrato (trilhas 1 a 4), e com lâmina cilíndrica não dentada (filmes contínuos para difração de raios X), variando-se a velocidade de deslocamento da lâmina (5, 10 e 15 mm/s) e a altura entre lâmina e substrato (100 e 150 µm). O conjunto contém: (i) espectros de absorção UV-Vis (300–800 nm) por trilha das amostras VE01 e VE02 (P3HT) e VE10 e VE11 (PBTTT-C14); (ii) espectros Raman (laser de 532 nm, 100–2000 cm⁻¹) das amostras VE01 e VE10; (iii) espectros FTIR em transmitância (500–4000 cm⁻¹) das amostras VE02 e VE10; (iv) dados de microscopia de força atômica: espessura (média e desvio padrão de cinco perfis por trilha) das amostras VE01 a VE06, VE31, VE32, VE33, VE36, VE37 e VE41, e rugosidade (Rq e Ra) com mapas topográficos de 5 µm × 5 µm das amostras VE01, VE02, VE04, VE31, VE33 e VE36; (v) difratogramas de raios X por incidência rasante (GiXRD, Cu-Kα, λ = 1,5406 Å) das amostras VE42 a VE44 (PBTTT-C14) e VE46 a VE48 (P3HT), com os espaçamentos interplanares calculados. Os dados foram utilizados para correlacionar os parâmetros de deposição com a espessura, a rugosidade e a organização estrutural dos filmes, visando à sua aplicação como camada ativa em sensores de gás e sistemas de nariz eletrônico. (2026-08-10)
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